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激光椭偏仪 Laser Ellipsometer

  • 激光椭偏仪SE 400advanced 

    激光椭偏仪SE 400advanced 

    多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器,对测量薄膜厚度,折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜,多层膜和大块材料(基底) 

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